LEADER 00000nam 2200000uu 4500 |
001 51830 |
003 ULIBM |
008 200713s25629999tha 000 0 tha d |
099 ^aThesis.MIT สทญ^bณ342ก
|
100 0 ^aณัฐภัทร พิตรปรีชา
|
245 10 ^aการตรวจหารอยช้ำของแอปเปิ้ลโดยเทคนิควิเคราะห์ภาพถ่ายคลื่อนรังสีความร้อนแบบอินฟราเรด /^cณัฐภัทร พิตรปรีชา
|
246 31 ^aApple-Bruised Detection Using Infrared thermal Imaging Analytical Techniques
|
260 ^aกรุงเทพฯ :^bสถาบันเทคโนโลยีไทย-ญี่ปุ่น,^c2562
|
300 ^a140 หน้า :^bภาพประกอบ, ตาราง
|
610 7 ^aเทคโนโลยีสารสนเทศ^xวิทยานิพนธ์
|
610 7 ^aสถาบันเทคโนโลยีไทย-ญี่ปุ่น.สาขาวิชาเทคโนโลยีสารสนเทศ^xวิทยานิพนธ์
|
700 0 ^aสะพรั่งสิทธิ์ มฤทุสาธร^eอาจารย์ที่ปรึกษาวิทยานิพนธ์
|
710 2 ^aสถาบันเทคโนโลยีไทย-ญี่ปุ่น.^bบัณฑิตวิทยาลัย
|
945 ^p350^l0^i201901474 |
999 ^aRodjaney
|