fieldid E-Thesis & Research สถาบันเทคโนโลยีไทย-ญี่ปุ่น
สืบค้น:

เขตข้อมูล ข้อมูล
บทคัดย่อ
การตรวจหารอยช้ำของแอปเปิ้ลโดยเทคนิควิเคราะห์ภาพถ่ายคลื่อนรังสีความร้อนแบบอินฟราเรด : การวิเคราะห์ภาพถ่ายคลื่นรังสีความร้อนแบบอินฟราเรดเพื่อตรวจหารอยช้าของแอปเปิ้ลเป็นวิธีการนำเสนอเพื่อตรวจหารอยช้าที่เกิดขึ้นใหม่ ซึ่งอาจจะยังไม่ปรากฏให้เห็นบนพื้นผิวและไม่สามารถสังเกตได้ด้วยกล้องถ่ายภาพปกติ กรรมวิธีที่นำมาใช้ในการทดลองคือการกระตุ้นให้เกิดการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิโดยเทคนิคการถ่ายเทความร้อนและคลายความร้อนเพื่อสร้างความแตกต่างระหว่างรอยช้าและผิวปกติซึ่งสามารถบันทึกภาพได้ด้วยกล้องถ่ายภาพรังสีความร้อนแบบอินฟราเรด การทำงานของระบบตรวจสอบรอยช้ามีโครงสร้างหลักคือ ResNet เป็นระบบการเรียนรู้ของเครื่องเชิงลึก มีหน้าที่เรียนรู้ข้อมูลภาพและระบุชนิดของวัตถุภายในภาพ ระบบนี มีจุดเด่นคือสามารถข้ามลำดับการเรียนรู้ลักษณะเด่นของวัตถุที่มีความซ้ำซ้อนกัน เมื่อนำมาประยุกต์ใช้ร่วมกับ YOLO ซึ่งเป็นระบบตรวจหาวัตถุในภาพที่ประมวลผลได้ตามเวลาจริง จะได้ระบบตรวจสอบรอยช้ำของแอปเปิ้ลที่รวดเร็วและแม่นยำ สุดท้ายจะยืนยันผลลัพธ์ที่ได้ด้วยการวัดผลแบบ Confusion matrix และ F score ที่เป็นมาตรฐานชี้วัดสำหรับระบบประมวลผลภาพ จากการทดสอบซ้ำหลายครั้งพบว่าผลลัพธ์ที่ได้มีความสม่ำเสมอ มีข้อผิดพลาดเพียงเล็กน้อย ผลลัพธ์โดยรวมอยู่ในเกณฑ์ที่ดี
ผู้แต่ง
ณัฐภัทร พิตรปรีชา
ประเภทสิ่งพิมพ์
วิทยานิพนธ์ (MIT) 2019
เลขหน้า
151
หัวเรื่อง
สถาบันเทคโนโลยีไทย-ญี่ปุ่น.สาขาวิชาเทคโนโลยีสารสนเทศ--วิทยานิพนธ์
หัวเรื่อง
เทคโนโลยีสารสนเทศ--วิทยานิพนธ์
เอกสารฉบับเต็ม
Download full text